Das FAT-Projekt Zuverlässige Automotive Embedded Systems beschäftigt sich mit Auswirkungen aktueller Technologie-Trends auf die Zuverlässigkeit der Automobilelektronik. Betrachtet werden dabei Hardware- und Softwareaspekte sowie Wechselwirkungen zwischen Hardware- und Software.
Projektlaufzeit: 01.01.2007 - 31.12.2008